Microscop electronic cu transmisie SPECTRA S/TEM
Spectra S/TEM este conceput pentru imagistica si analiza avansate la scara atomica, combinand cele mai inalte specificatii de rezolutie si de sensibilitate disponibile comercial, pentru obtinerea celor mai bune rezultate, indiferent de experienta utilizatorului. Datorita usurintei de utilizare fara precedent si specificatiilor tehnice superioare, Spectra acopera o gama variata de aplicatii academice si industriale, precum dezvoltarea materialelor usoare, otelurilor avansate, aliajelor de aluminiu, sau compozitelor polimerice. Performantele echipamentului in studiul materialelor si structurilor semiconductoare contribuie la proiectarea unor dispozitive electronice inteligente, mai rapide si cu capacitate de stocare sporita.
Spectra S/TEM este dedicat caracterizarii materialelor sensibile la fasciculul electronic si a structurilor semiconductoare, analizei structurale a materialelor complexe si experimentelor in situ, ce necesita reglajul extrem de precis al parametrilor de curent si tensiune de accelerare. In functie de aplicatie, Spectra S/TEM poate fi echipat cu surse electronice cu emisie in camp de tip Schottky (X-FEG Mono si X-FEG Ultimono) sau cu catod rece (X-CFEG), prin care se dubleaza intensitatea semnalului analitic si creste semnificativ rezolutia spatiala fata de sursele CFEG conventionale. De asemenea, indeplineste cerintele de caracterizare chimica extinsa la nivel atomic, utilizand metode analitice EDX si EELS.
Spectra 300 are transmisie cu cea mai mare rezolutie si cea mai eficienta corectare a aberatiilor pentru toate domeniile de stiinta materialelor. Stabilitatea mecanica de neegalat obtinuta prin sisteme pasive si active de compensare a vibratiilor ofera cea mai clara imagine la nivel atomic. Incinta acustica a microscopului a fost integral reproiectata pentru afisarea pe un ecran integrat a accesului si evacuarii probei. Datorita modularitatii complete, este posibila configurarea si actualizarea ulterioara a unui sistem fara corectori sau cu un singur corector de imagine, iar datorita coloanei electronice cu inaltime variabila, poate fi adaptat oricaror conditii de instalare din laborator.
Spectra 300 poate fi configurat cu tun electronic cu emisie in camp de rezolutie inalta X-FEG/Mono, sau ultra-inalta X-FEG/UltiMono, ori cu catod rece (X-CFEG). Configuratia formata din sursa X-CFEG si corectorul de aberatie S-CORR garanteaza atingerea rezolutiilor sub-Angstrom in modul STEM, la curenti pe proba mai mari de 1000 pA. Controland riguros parametrii tunului electronic si a lentilelor din coloana, curentul pe proba poate fi reglat fin intre <1 nA si cateva zeci de nA, fara influente sesizabile asupra aberatiilor pe proba.
Descarcă broșura Spectra 300 TEM aici
Pentru detalii click aici
Spectra 200 poate fi echipat cu tun electronic cu catod rece (X-CFEG), de inalta stralucire (>>1.0 x 108 A/m2/Sr/V*), dispersie energetica redusa si care poate functiona la o tensiune de accelerare cuprinsa intre 30 si 200 kV. Astfel, beneficiind de performantele sursei X-CFEG, corectarea aberatiilor de ordinul 5 si stabilitate mecanica foarte buna, se obtin imagini STEM cu contrast ridicat la rezolutie ultra-inalta pe tot intervalul de tensiuni specificat.
Spectra 200 pastreaza in configuratia standard lentilele obiectivului cu deschidere mare S-TWIN specifice familiei Themis S/TEM, mentinandu-se astfel avantajele imagisticii in camp extins fara limitarea rezolutiei spatiale. Pentru simplificarea utilizarii, au fost dezvoltati algoritmi software de inalta fiabilitate si reproductibilitate, pentru corectia automata a aberatiilor de ordinul 4 in imagistica STEM (Auto S-CORR) si optimizarea aberatiilor de ordinele 1 si 2 pe orice tip de proba (OptiSTEM+). Asadar, functia Auto S-CORR poate fi utilizata saptamanal pentru mentinerea aberatiilor de ordin mare, in timp ce OptiSTEM+ poate fi accesat zilnic pentru cresterea calitatii imaginilor, fara a fi necesare probe standard pentru calibrare si alinierea manuala a coloanei verticale
Spectra 300 are transmisie cu cea mai mare rezolutie si cea mai eficienta corectare a aberatiilor pentru toate domeniile de stiinta materialelor. Stabilitatea mecanica de neegalat obtinuta prin sisteme pasive si active de compensare a vibratiilor ofera cea mai clara imagine la nivel atomic. Incinta acustica a microscopului a fost integral reproiectata pentru afisarea pe un ecran integrat a accesului si evacuarii probei. Datorita modularitatii complete, este posibila configurarea si actualizarea ulterioara a unui sistem fara corectori sau cu un singur corector de imagine, iar datorita coloanei electronice cu inaltime variabila, poate fi adaptat oricaror conditii de instalare din laborator.
Spectra 300 poate fi configurat cu tun electronic cu emisie in camp de rezolutie inalta X-FEG/Mono, sau ultra-inalta X-FEG/UltiMono, ori cu catod rece (X-CFEG). Configuratia formata din sursa X-CFEG si corectorul de aberatie S-CORR garanteaza atingerea rezolutiilor sub-Angstrom in modul STEM, la curenti pe proba mai mari de 1000 pA. Controland riguros parametrii tunului electronic si a lentilelor din coloana, curentul pe proba poate fi reglat fin intre <1 nA si cateva zeci de nA, fara influente sesizabile asupra aberatiilor pe proba.
Descarcă broșura Spectra 300 TEM aici
Pentru detalii click aici
Spectra 200 poate fi echipat cu tun electronic cu catod rece (X-CFEG), de inalta stralucire (>>1.0 x 108 A/m2/Sr/V*), dispersie energetica redusa si care poate functiona la o tensiune de accelerare cuprinsa intre 30 si 200 kV. Astfel, beneficiind de performantele sursei X-CFEG, corectarea aberatiilor de ordinul 5 si stabilitate mecanica foarte buna, se obtin imagini STEM cu contrast ridicat la rezolutie ultra-inalta pe tot intervalul de tensiuni specificat.
Spectra 200 pastreaza in configuratia standard lentilele obiectivului cu deschidere mare S-TWIN specifice familiei Themis S/TEM, mentinandu-se astfel avantajele imagisticii in camp extins fara limitarea rezolutiei spatiale. Pentru simplificarea utilizarii, au fost dezvoltati algoritmi software de inalta fiabilitate si reproductibilitate, pentru corectia automata a aberatiilor de ordinul 4 in imagistica STEM (Auto S-CORR) si optimizarea aberatiilor de ordinele 1 si 2 pe orice tip de proba (OptiSTEM+). Asadar, functia Auto S-CORR poate fi utilizata saptamanal pentru mentinerea aberatiilor de ordin mare, in timp ce OptiSTEM+ poate fi accesat zilnic pentru cresterea calitatii imaginilor, fara a fi necesare probe standard pentru calibrare si alinierea manuala a coloanei verticale
Descarcă broșura Spectra 200 TEM aici
Pentru detalii click aici
