Microscoape electronice cu fascicul ionic focalizat (PFIB)

Microscop electronic cu fascicul ionic focalizat HELIOS PFIB UXe
Microscop electronic cu fascicul ionic focalizat HELIOS PFIB UXe

Helios G4 PFIB oferă capabilități de neegalat pentru caracterizarea 3D de volum mare, pentru pregătirea eșantionului Ga+free și precizia micromachining. Helios G4 PFIB UXe face parte din cea de-a patra generație Helios DualBeam. Acesta combină noua coloană PFIB 2.0 cu Thermo Scientific Monochromated…

Vezi detalii
Microscop electronic cu fascicul ionic focalizat HELIOS PFIB CXe
Microscop electronic cu fascicul ionic focalizat HELIOS PFIB CXe

Helios G4 PFIB oferă capabilități de neegalat pentru caracterizarea 3D de volum mare, pentru pregătirea eșantionului Ga+free și precizia micromachining. Helios G4 PFIB CXe face parte din cea de-a patra generație Helios DualBeam. Acesta combină noua coloană PFIB 2.0 cu Thermo Scientific Monochromated…

Vezi detalii
Microscop electronic cu fascicul ionic focalizat HELIOS PFIB HXe
Microscop electronic cu fascicul ionic focalizat HELIOS PFIB HXe

Helios G4 PFIB HXe oferă în plus, față de multe alte aplicații de procesare FIB, capabilități unice care permit întârzierea deteriorării semiconductoarelor de 10nm și analiza 3D a defecțiunilor avansate. Pentru detalii click aici

Vezi detalii