Microscoape Electronice cu Baleaj

Quanta™
Quanta™

Linia FEI Quanta™ constă în șase microscoape electronice cu baleiaj la presiunea mediului (environmental scanning electron microscopes - ESEM™) și două sisteme Wafer DualBeam™, toate fiind capabile de analizarea probelor multiple și obținerea de imagini pentru laboratoarele…

Vezi detalii
Verios™ XHR
Verios™ XHR

Pentru detalii click aici

Vezi detalii
QEMSCAN
QEMSCAN

Pentru detalii click aici  

Vezi detalii
MLA
MLA
MLA

Pentru detalii click aici

Vezi detalii
Apreo
Apreo

Apreo - Cel mai versatil SEM de inalta performanta Apreo include un design revolutionar de combinare a tehnologiei lentilelor electrostatice si magnetice prin imersiune pentru a selecta semnale la niveluri de rezolutie fara precedent. Acest tehnologie revolutionara defineste platforma Apreo drept sistemul…

Vezi detalii
Teneo
Teneo

SEM Teneo de la FEI se caracterizeaza prin o imagistica de ultra inalta rezolutie si prin inalta performanta analitica. Dotat cu un sistem unic de detectie - Trinity - furnizeaza cel mai inalt contrast inregistrat pe probe destinate atat aplicatiilor din stiinta materialelor cat si aplicatiilor din…

Vezi detalii
Q250 SEM
Q250 SEM

Flexible sample characterization in high vacuum, low vacuum, and ESEM for any sample. The Thermo Scientific™ Q250 scanning electron microscope addresses your need to investigate a wide variety of materials while characterizing their structure and composition. Surface and compositional images combined…

Vezi detalii
Explorer 4 Analyzer
Explorer 4 Analyzer

The Thermo Scientific™ Explorer™ 4 Analyzer is a scanning electron microscope designed as an industrial microscopy solution for quality control, production process optimization, failure analysis, and profitability. Suitable for industrial production environments, the Explorer 4 Analyzer…

Vezi detalii