FIB-SEM versatil pentru performanta ridicata si automatizare avansata
Thermo Scientific Scios 3 FIB-SEM este un microscop electronic cu fascicul de ioni focalizat (FIB-SEM) de ultima generatie, conceput pentru analiza la rezolutie ultra-inalta. Acesta ofera performante exceptionale in pregatirea probelor si caracterizarea tridimensionala a unei game variate de materiale, inclusiv a celor magnetice si neconductoare. Dotat cu functionalitati inovatoare menite sa imbunatateasca productivitatea, fiabilitatea si usurinta in utilizare, Scios 3 FIB-SEM reprezinta o solutie ideala pentru cercetatori si ingineri implicati in activitati avansate de cercetare si analiza, in medii variate.
Combinat cu o suita completa de aplicatii software automatizate, Scios 3 FIB-SEM este optimizat pentru a raspunde celor mai frecvente scenarii de utilizare. Aceasta solutie inovatoare si usor de utilizat contribuie semnificativ la cresterea productivitatii, fiind valoroasa atat pentru utilizatorii din industrie, cat si pentru cei din mediul academic.
Caracteristici avansate ale sistemului Scios 3 FIB-SEM
Thermo Scientific Scios 3 FIB-SEM reprezinta o solutie inovatoare, conceputa pentru a extinde capabilitatile de cercetare prin imagistica la rezolutie ultra-inalta, analiza automatizata a sectiunilor transversale si pregatirea exceptionala a probelor pentru TEM si STEM. Acest instrument versatil valorifica tehnologii avansate si o interfata prietenoasa cu utilizatorul, fiind ideal pentru o gama larga de aplicatii. Descoperiti cum Scios 3 FIB-SEM poate optimiza fluxurile de lucru, reduce interventia utilizatorului si sprijini obtinerea unor rezultate consecvente si de inalta calitate in medii cu productivitate ridicata.
Imagistica SEM cu rezolutie ultra-inalta utilizand coloana de electroni NICol
Coloana de electroni inovatoare NICol reprezinta baza capabilitatilor de imagistica si detectie la rezolutie inalta ale sistemului Scios 3 FIB-SEM. Aceasta ofera detalii excelente la scara nanometrica, intr-o gama larga de conditii de operare, fie ca este utilizata la 30 keV in modul STEM pentru a obtine informatii structurale, fie la energii mai joase pentru a extrage detalii fine de la suprafata, fara acumulare de sarcina. Datorita designului unic al coloanei NICol, care include aliniere complet automatizata, se obtin rezultate rapide, precise si reproductibile.
Imagistica SEM ofera informatii complete despre proba
Tehnologia de detectie avansata Trinity, integrata in sistemul de detectie in-lens, este proiectata pentru achizitia simultana de imagini SE si BSE, cu selectie atat unghiulara, cat si energetica. Aceasta permite acces rapid la informatii detaliate la scara nanometrica, nu doar din perspectiva verticala (top-down), ci si de pe probe inclinate sau sectiuni transversale. Detectoarele optionale plasate sub obiectiv, impreuna cu modul de decelerare a fasciculului de electroni, faciliteaza colectarea rapida si eficienta a tuturor semnalelor, permitand vizualizarea celor mai fine detalii de pe suprafetele materialelor sau din sectiuni transversale.
Analiza automatizata a sectiunilor transversale
Sistemul Scios 3 FIB-SEM integreaza o aplicatie dedicata pentru analiza complet automatizata a sectiunilor transversale, permitand caracterizarea substructurilor de inalta calitate, multi-modala, cu o localizare precisa a regiunii de interes. Aceasta solutie este conceputa pentru a eficientiza fluxurile de lucru, a reduce interventia utilizatorului si a asigura obtinerea unor rezultate constante si de inalta calitate in medii cu productivitate ridicata.
Pregatirea de inalta calitate a probelor pentru STEM si TEM
Cele mai recente inovatii tehnologice integrate in sistemul Scios 3 FIB-SEM, impreuna cu software-ul intuitiv si complet Thermo Scientific AutoTEM 5 si expertiza aplicativa acumulata, permit pregatirea rapida si facila a probelor HR-S/TEM, cu localizare precisa, pentru o gama larga de materiale. Pentru obtinerea unor rezultate de inalta calitate, este esentiala etapa finala de lustruire cu ioni de energie joasa, care minimizeaza deteriorarea suprafetei probei. Tehnologia Thermo Scientific DualBeam ofera nu doar imagistica si frezare de inalta rezolutie la tensiuni inalte, ci si performante excelente la tensiuni joase, facilitand realizarea unei lamele TEM de calitate superioara.
Interfata prietenoasa cu utilizatorul
Interfata intuitiva simplifica operarea sistemului si reduce semnificativ timpul de invatare. Aceasta imbunatatire de design contribuie la cresterea productivitatii, permitand utilizatorilor sa stapaneasca rapid functionarea echipamentului si sa se concentreze pe obiectivele de cercetare. Interfata prietenoasa faciliteaza utilizarea eficienta chiar si de catre persoane cu experienta minima, extinzand astfel accesibilitatea sistemului catre o gama mai larga de utilizatori. Functionalitati precum ghidarea pas cu pas, dar si optiunile „undo” si „redo”, incurajeaza experimentarea intr-un mod sigur si controlat. Aceasta usurinta in utilizare este esentiala pentru valorificarea completa a potentialului sistemului si pentru obtinerea unor rezultate optime.
Configuratie DualBeam flexibila
Configuratia flexibila DualBeam poate fi adaptata pentru a raspunde cerintelor specifice ale diferitelor aplicatii. Aceasta versatilitate permite personalizarea sistemului in functie de necesitatile utilizatorului, asigurand compatibilitatea cu o gama larga de activitati. Configuratia DualBeam extinde capacitatile sistemului, facandu-l potrivit atat pentru imagistica de suprafata si sub suprafata, cat si pentru caracterizari analitice 3D avansate si pregatirea probelor. Aceasta adaptabilitate este esentiala pentru cercetatori si ingineri care au nevoie de un sistem capabil sa raspunda unor cerinte diverse si in continua evolutie.
Experimentare in conditii apropiate de cele reale
Proiectat pentru cele mai solicitante aplicatii de microscopie electronica din stiinta materialelor, sistemul Scios 3 FIB-SEM poate fi echipat cu suportul μHeater – o platforma de incalzire complet integrata, extrem de rapida, bazata pe tehnologie MEMS, care permite caracterizarea probelor in conditii apropiate de cele reale de functionare. Platforma de 110 mm se poate inclina pana la 90° si ofera o distanta de lucru eucentrica extinsa, asigurand o flexibilitate remarcabila. Scios 3 FIB-SEM ofera optional un mod de operare in vid redus si permite manipularea facila a unei game variate de tipuri de probe si metode de colectare a datelor. Sistemul combina capabilitati extinse de depunere si gravare cu Thermo Scientific MultiChem Gas Delivery System, oferind un control avansat asupra probelor si o versatilitate ridicata, intr-un instrument FIB-SEM de inalta performanta, sustinut de expertiza noastra aplicativa si suportul tehnic specializat.
Aflati mai multe aici
Descarcati brosura aici
